2601B-PULSE 10?s脉冲发生器/SMU

泰克TEKTRONIX品牌的2601B-PULSE10s脉冲发生器/SMU增加业内首个消除脉冲调谐技术 。System SourceMeter10s脉冲发生器/源测量单元 (SMU) 仪器 将高电流/高速脉冲发生器的功能与传统 SMU的测量及全部功能集于一台仪器中。其优异的10A@10V快达10s脉冲宽度和全1MS/s数字化功能极大地提升了从台式检定到高度自动化脉冲式 I-V生产测试等应用的效率。 将快速脉冲发生器功能与SMU功能集成至一台仪器中。2601B-PULSE在业界领先的吉时利2601B SMU仪器所 提供的测量完整性、同步性、......

产品描述

泰克TEKTRONIX品牌的2601B-PULSE10µs脉冲发生器/SMU增加业内首个消除脉冲调谐技术。System SourceMeter®10µs脉冲发生器/源测量单元 (SMU) 仪器将高电流/高速脉冲发生器的功能与传统 SMU的测量及全部功能集于一台仪器中。其优异的10A@10V快达10μs脉冲宽度和全1MS/s数字化功能极大地提升了从台式检定到高度自动化脉冲式 I-V生产测试等应用的效率。
将快速脉冲发生器功能与SMU功能集成至一台仪器中。2601B-PULSE在业界领先的吉时利2601B SMU仪器所提供的测量完整性、同步性、速度和准确性基础上新增脉冲发生器功能。通过1MS/s的数字化功能,实现脉冲发生器0.05%的基本测量精度;SMU100nA低电流范围与100fA灵敏度;后面板BNC连接实现电缆快速设置。
2601B-PULSE
通道数:1 台脉冲发生器/1 台 SMU
脉冲发生器V/I 范围:1 μA-10A;1 μV-10V
SMUV/I 范围:100fA-10A;100nV- 40V
精度:脉冲发生器:0.05%;SMU:0.015%
最大速度:1M个读数/秒

无需手动脉冲调整即可实现高脉冲保真度

通过2601B-PULSE控制回路系统,高达3μH的负载变化无需手动调整,从而确保在任何电流水平(最高10 安培)下输出10μs至 500μs脉冲时,脉冲均不会出现过冲和振荡。脉冲上升时间 <1.7μs,确保您可以正确检定被测器件或电路。
输出10A@10V,脉冲宽度为10μs
脉冲上升时间 <1.7μs,可轻松检定
高保真脉冲输出,在任何电流水平下均无需调整

2601B-PULSE 10?s脉冲发生器/SMU

嵌入式脚本和连接提供无与伦比的生产吞吐量

测试脚本处理器 (TSP®) 技术可在 SMU仪器内嵌入和实行完整测试程序,提供业界最佳性能。TSP-Link® 技术支撑扩展多达 32个TSP链路节点,以创建高速、SMU-Per-Pin 并行测试(而不使用主机)。
消除与PC 之间耗时的总线通信
高级数据处理和流量控制
连接多达 32个TSP链路节点
随着测试要求变化轻松重新配置

型号 通道 最大电流源/量程 最大电压源/量程 测量分辨率(电流/电压) 电源
2601B-PULSE 1 10A 40V 100fA/100nV Pulser:100 W instantaneous
SMU:200 W instantaneous

2601B-PULSE10µs脉冲发生器/SMU应用领域

ToF/LIDAR 应用的激光二极管 (VCSEL) 生产测试

2601B-PULSE是激光二极管垂直腔表面发射激光器 (VCSEL)LIV生产测试的理想解决方案,采用高速高精度10μs脉冲发生器和 SMU,可用于VCSEL、VCSEL 阵列和激光二极管模块的电流脉冲源和电压-电流监测。SMU提供最经济实惠的LIV仪器,系统同步和吞吐量高。
2601B-PULSE10?s

可编程脉冲电流源可达10A电流和10µs脉冲宽度

电压和电流测量分辨率为100nV和100fA
内置TSP® 处理功能可减少PC和仪器总线通信
如何使用2601B-PULSESystem SourceMeter SMU仪器生成10μs脉冲 当输出低至10µs的脉冲时,新型电流脉冲发生器/SMU无需耗时的手动计时
2601B-PULSE 10?s

简化的LED脉冲式/直流 I/V检定

2601B-PULSE独特的电流脉冲、直流电压和电流功能可实现高速LED直流和脉冲IV检定及生产测试,具有0.015% 的基本测量精度。对MicroLED、LED 或高亮度LED(HBLED) 实行脉冲测试可最大程度地减少自发热,并减少对测量精度的负面影响,此外,无需担心损坏被测器件。
可编程电流源可达10A电流和10µs脉冲宽度
电压和电流测量分辨率为100nV和100fA
1M 样点/秒数字化器,用于快速采集和测量数据
内置TSP处理功能可减少PC 仪器总线通信

晶圆半导体测试

Keithley2601B-PULSE和其他系列2600B System SourceMeter® SMU仪器将堆架式仪器的可扩展性和灵活性与基于主机系统的集成和高吞吐量相结合,使用TSP和TSP链路技术减少制造活动和测试成本。这些仪器通常用于激光二极管、LED、晶体管等晶圆半导体测试。
内置TSP处理功能可减少PC 仪器总线通信
TSP-链路多达32台仪器可在 500ns内与其他 KeithleyTSP仪器同步
文章来源于测试仪

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